靜電積累測試：一

接觸式測量

使被測物體(ti) 與(yu) 靜電電壓表直接接觸，利用等電位原理進行測試的方法稱為(wei) 接觸式測量，這種測量方法僅(jin) 適用於(yu) 對靜電導體(ti) 帶電電位的測試。

非接觸式測量
使用這種測試方法時，測試儀(yi) 表不用直接與(yu) 帶電體(ti) 接觸，而 運用靜電感應的原理，間接測試帶電體(ti) 的靜電電位。由於(yu) 這種測試不是直接同帶電體(ti) 相接觸，因此也稱為(wei) 非接觸式測量。

與(yu) 接觸式測量相比，非接觸式測量結題受儀(yi) 表輸入電容、輸入電阻的影響較小，但受測試距離、帶電體(ti) 幾何尺寸的影響較大。測試數據一般隻能作為(wei) 參考，或進行相對比較。

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